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XBAR-R_SPC教材

'XBAR-R_SPC教材'
spc SPC(Statistical Process Control) 统计制程管制控制图 上控制限 中心限 下控制限1、收集收集数据并画在图上2、控制 根据过程数据计算实验控制限 识别变差的特殊原因并采取措施3、分析及改进确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施重复这三个阶段从而不断改进过程管制图类型 X-R 均值和极差图 P chart 不良率管计 计 制图 量 X-δ均值和标准差图 数 nP chart 不良数管型 型 制图数 X -R 中位值极差图 数 C chart 缺点数管据 据 制图 X-MR 单值移动极差 U chart 单位缺点 图 数管制图 均值和极差图(X-R) 1、收集数据 以样本容量恒定的子组形式报告,子组通常包括2-5件连续的产品, 并周性期的抽取子组。 注:应制定一个收集数据的计划,将其作为收集、记录及描图的依据。1-1 选择子组大小,频率和数据 1-1-1 子组大小:一般为5件连续的产品,仅代表单一刀具/冲头/过程 流等。(注:数据仅代表单一刀具、冲头、模具等 生产出来的零件,即一个单一的生产流。) 1-1-2 子组频率:在适当的时间内收集足够的数据,这样子组才能 反映潜在的变化,这些变化原因可能是换班/操作人 员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产 品进行监测的子组频率可以是每班2次,或一小时一 次等。 接上页1-1-3 子组数:子组越多,变差越有机会出现。一般为25组,首次使 用管制图选用35 组数据,以便调整。 1-2 建立控制图及记录原始数据 (见下图) 烤纸“温度”X---R图记录单位: 组立 滤纸材质:机油格 规范温度:170-175°c 机器名称:烤炉 均值 173 175 170 X = X = UCL= U C L+A=2 R X = + A 2 R = LCL= -LAC2RL== X +A2 R = 均值 R = R = 4.3 UCL=D4 R = 9.09 LCL=D3R = 0 X图 175 A2=0.577 174 173 172 171 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 系列 1 系列 2 D3=0.000 R图 8 4 0 D4=2.115 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 1 6 1 7 1 8 1 9 2 0 2 1 2 2 2 3 2 4 2 5 2 6 2 7 2 8 2 9 3 0 系列 1 编号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 9/6 9/6 9/6 9/6 9/6 9/6 9/6 9/7 9/7 9/7 9/7 9/7 9/7 9/8 9/8 9/8 9/8 9/11 9/11 9/11 9/11 9/11 9/12 9/12 9/12 9/12 9/12 13 9/13日期/时间 8:00- 9:00- 10:- 11:00- 13:30- 14:30- 15:30- 8:00- 9:00- 10:00- 11:00- 13:30- 15:30- 10:30- 13:30- 14:30- 15:30- 8:00- 9:00- 10:00- 11:00- 13:30- 8:00- 13:30- 14:30- 15:30- 16:30- 8:00- 9:00- 9:00 10:00 11:00 12:00 14:30 15:30 16:30 9:00 10:00 11:00 12:00 14:30 16:30 11:30 14:30 15:30 16:30 9:00 10:00 11:00 12:00 14:30 9:00 14:30 15:30 16:30 17:30 9:00 10:00读数 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174读数 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175读数 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173 171 170 174 171 175读数 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174 172 169 172 169 174读数 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173 读数之和 ? 读数数量 174 175 175 175 172 173 171 173 173 174 172 172 172 172 174 173 171 172 174 174 173 174 172 172 171 172 173 172 174R=最大值-最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2应记录人员、材料、环境、方法、机器或测量系统的任何变化,当控制图上出现信号时,这些记录将有助于采取纠正措 .
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